Wynik wyszukiwania
Zapytanie: RAMZAN R
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000031531
Tytuł oryginału: LNA design for on-chip RF test.
Autorzy: R. Ramzan, L. Zou, Jerzy** D±browski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4236-4239, bibliogr. 8 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: bitowa stopa błędów ; testowanie układu ; przesłuch ; wykrywanie uszkodzeń ; transceiver
Słowa kluczowe angielskie: bit error rate ; circuit testing ; crosstalk ; fault detection ; transceiver
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000029028
Tytuł oryginału: Offset loopback test for IC RF transceivers.
Autorzy: Jerzy** D±browski, R. Ramzan.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2006. Proceedings of the international conference, Gdynia, Poland, 22-24 June 2006. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2006, s. 583-586, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland, Department of Marine Electronics. Gdynia Maritime University. Poland, Institute of Microelectronics and Optoelectronics. Warsaw University of Technology. Poland
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/6
Nr opisu: 0000020318
Tytuł oryginału: CMOS blocks for on-chip RF test.
Autorzy: R. Ramzan, Jerzy** D±browski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2005. Proceedings of the 12th international conference, Kraków, Poland, 22-25 June 2005. Vol. 1. Ed. A. Napieralski. Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]. ŁódĽ : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2005, s. 403-408
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


4/6
Nr opisu: 0000020279
Tytuł oryginału: Programmable attenuator and switch for RF test by chip reconfiguration.
Autorzy: T. Kantasuwan, R. Ramzan, Jerzy** D±browski.
¬ródło: W: Proceedings of Radio Science and Communication. RVK 05, Linköping, Sweden,14-16 June 2005. Eds: O. Gustafsson, P. Lowenborg. [B.m.] : [b.w.], 2005, s. 253-256
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/6
Nr opisu: 0000020289
Tytuł oryginału: Programmable RF attenuator for one-chip loopback test.
Autorzy: T. Kantasuwan, R. Ramzan, Jerzy** D±browski.
¬ródło: W: European Test Symposium. ETS 2005, Tallinn, Estonia, 22-25 May 2005. Proceedings. Los Alamitos : IEEE Computer Society, 2005, s. 28-33
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


6/6
Nr opisu: 0000020320
Tytuł oryginału: Wideband MCML basic cells in 0.35 um CMOS end.
Autorzy: R. Ramzan, Jerzy** D±browski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2005. Proceedings of the 12th international conference, Kraków, Poland, 22-25 June 2005. Vol. 1. Ed. A. Napieralski. Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]. ŁódĽ : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2005, s. 227-231
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie