Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PLUSKA M
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000093172
Tytuł oryginału: Changes in TCR of amorphous Ni-P resistive films as a function of thermal stabilization parameters
Autorzy: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, J. Kulawik, A. Czerwiński, M. Pluska.
Źródło: -Microelectron. Int. 2014 vol. 31 iss. 3, s. 149-153, bibliogr. 14 poz.
Impact Factor: 0.659
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 1356-5362
DOI:
Słowa kluczowe polskie: TWR ; struktura amorficzna ; warstwa rezystywna ; stabilizacja termiczna
Słowa kluczowe angielskie: TCR ; amorphous structure ; resistive layer ; thermal stabilization
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie