Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PARISSE P
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000056850
Tytuł oryginału: Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grządziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000056438
Tytuł oryginału: Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application
Autorzy: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.727
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymałość na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000048128
Tytuł oryginału: XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
Źródło: -Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 0.368
p-ISSN: 2083-1331
e-ISSN: 2083-134X
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.4054
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie