Wynik wyszukiwania
Zapytanie: OVERNEY F
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000105669
Tytuł oryginału: A PXI synchronous sampling system for determination of frequency characteristics of two-port circuits.
Autorzy: Wojciech Barwinek, Marian Kampik, Krzysztof Musioł, F. Overney.
Źródło: W: Problems and progress in metrology. PPM'15, Kościelisko, 07-10 June 2015. Polish Academy of Sciences. Katowice Branch. Katowice : Metrology Commission of Katowice Branch of Polish Academy of Sciences, 2015, s. 17-20, bibliogr. 4 poz.
ISBN: 978-83-939486-0-4
Seria: (Proceedings of Metrology Commission of Katowice Branch of the Polish Academy of Sciences ; Conferences ; nr 20)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000097836
Tytuł oryginału: A precise two-channel digitally synthesized AC voltage source for impedance metrology.
Autorzy: J. Nissila, K. Ojasalo, Marian Kampik, J. Kaasalainen, V. Maisi, M. Casserly, F. Overney, A. Christensen, L. Callegaro, V. D'Elia, N. T. M. Tran, F. Pourdanesh, M. Ortolano, D. B. Kim, J. Penttila, L. Roschier.
Źródło: W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 768-769, bibliogr. 2 poz.
ISBN: 978-1-4799-2480-6
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksujące publikację: Scopus; INSPEC; IEEE Xplore
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mostek impedancyjny ; przetwornik cyfrowo-analogowy ; źródło sygnału cyfrowego
Słowa kluczowe angielskie: impedance bridge ; digital-to-analog converter ; digital signal source
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000097851
Tytuł oryginału: AIM QuTE: automated impedance metrology extending the quantum toolbox for electricity.
Autorzy: L. Palafox, F. Raso, J. Kucera, F. Overney, L. Callegaro, P. Gournay, A. Ziołek, J. Nissila, G. Eklund, T. Lippert, Y. Gulmez, P. Fleischmann, Marian Kampik, R. Rybski.
Źródło: W: 16th International Congress of Metrology, Paris, France, October 7-10, 2013 [online]. Eds. J.-R. Filtz, B. Larquier, P. Claudel et J.-O. Favreau. Paris : EDP Sciences - Web of Conferences, 2013, (plik pdf) art. 11001 s. 1-3
Uwagi: Dostępny w Internecie: http://dx.doi.org/10.1051/metrology/201311001 [dostęp 1 kwietnia 2015]
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,25
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie