Wynik wyszukiwania
Zapytanie: OTTAVIANO L
Liczba odnalezionych rekordów: 20



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/20
Nr opisu: 0000114163
Tytuł oryginału: Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, J. Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2017 vol. 401, s. 256-261, bibliogr. 19 poz.
Impact Factor: 4.439
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 0169-4332
e-ISSN: 1873-5584
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; technologia RGTO ; krystaliczno¶ć ; morfologia ; chemia ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; sensoryka NO2
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; RGTO technology ; crystallinity ; morphology ; chemistry ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; NO2 sensor
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/20
Nr opisu: 0000096287
Tytuł oryginału: Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2014 vol. 326, s. 27-31, bibliogr. 20 poz.
Impact Factor: 2.711
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 0169-4332
e-ISSN: 1873-5584
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; morfologia ; chemia ; odpowiedĽ czujnika
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; morphology ; chemistry ; sensor response
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/20
Nr opisu: 0000096259
Tytuł oryginału: XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Ko¶cielniak, Jacek Szuber.
¬ródło: -Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.
Impact Factor: 2.779
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 1931-7573
e-ISSN: 1556-276X
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


4/20
Nr opisu: 0000089092
Tytuł oryginału: Surface properties of the 1D and 2D SnO2 nanostructures.
Autorzy: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, L. Ottaviano, E. Comini, D. Zappa, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Proceedings of 8th Solid State Surfaces and Interfaces. 8th SSSI, Smolenice Castle, Slovak Republik, November 25-28, 2013. Extended abstract book. Ed. R. Brunner. Bratislava : Comenius University, 2013, s. 86, bibliogr. 4 poz.
ISBN: 978-80-223-3501-0
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/20
Nr opisu: 0000082832
Tytuł oryginału: Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO2 ultra thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz.
Impact Factor: 2.112
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: cienka powłoka L-CVD ; poziom Fermiego ; dwutlenek cyny
Słowa kluczowe angielskie: L-CVD thin film ; Fermi level ; tin dioxide
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/20
Nr opisu: 0000083459
Tytuł oryginału: XPS and TDS comparative studies of the surface chemistry of Ag-doped L-CVD SnO2 nanolayers and SnO2 nanowires after air exposure.
Autorzy: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, L. Ottaviano, E. Comini, D. Zappa, Jacek Szuber.
¬ródło: W: VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 55, bibliogr. 3 poz.
Organizator: Silesian University of Technology. Institute of Electronics, European Center of Excellence CESIS. Gliwice. Poland
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l sygn. Cz.O1 138157


7/20
Nr opisu: 0000063356
Tytuł oryginału: Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.
Impact Factor: 1.795
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


8/20
Nr opisu: 0000059231
Tytuł oryginału: AFM studies of surface morphology of GaAs(100) surface after sulfide passivation.
Autorzy: Piotr* Ko¶cielniak, L. Ottaviano, S. Arabasz, Jacek Szuber.
¬ródło: W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 52
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


9/20
Nr opisu: 0000056850
Tytuł oryginału: Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grz±dziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/20
Nr opisu: 0000058962
Tytuł oryginału: Influence of substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, Jacek Szuber.
¬ródło: W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 53
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


11/20
Nr opisu: 0000056438
Tytuł oryginału: Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application
Autorzy: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.727
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymało¶ć na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


12/20
Nr opisu: 0000048128
Tytuł oryginału: XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 0.368
p-ISSN: 2083-1331
e-ISSN: 2083-134X
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4054
Dostęp on-line:


13/20
Nr opisu: 0000047687
Tytuł oryginału: XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głęboko¶ciowe
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


14/20
Nr opisu: 0000039992
Tytuł oryginału: AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.
Impact Factor: 1.693
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


15/20
Nr opisu: 0000076043
Tytuł oryginału: XRD and XPS comparative studies of stoichiometry of RGTO SnO2 thin films for gas sensor application.
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, P. Parissi, F. Bisti, Jacek Szuber.
¬ródło: W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 198, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Electronics. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH [et al.]
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


16/20
Nr opisu: 0000025450
Tytuł oryginału: Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Uwagi: Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005
Impact Factor: 1.436
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; wła¶ciwo¶ci elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


17/20
Nr opisu: 0000023051
Tytuł oryginału: Surface morphology of L-CVD SnO2 thin films for gas sensor application.
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 46
Organizator: Centre of Excellence in Physics and Technology of Semiconductor Interfaces and Sensors (CESIS). Department of Electron Technology. Silesian University of Technology, Gliwice, Poland
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 116437


18/20
Nr opisu: 0000025442
Tytuł oryginału: XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Uwagi: Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005
Impact Factor: 1.436
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głęboko¶ciowe ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


19/20
Nr opisu: 0000023052
Tytuł oryginału: XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO2 thin films.
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
¬ródło: W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 47, bibliogr. 8 poz.
Organizator: Centre of Excellence in Physics and Technology of Semiconductor Interfaces and Sensors (CESIS). Department of Electron Technology. Silesian University of Technology, Gliwice, Poland
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 116437


20/20
Nr opisu: 0000021704
Tytuł oryginału: XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Grzegorz* Czempik, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 36-42, bibliogr. 18 poz.
Impact Factor: 1.569
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie