Wynik wyszukiwania
Zapytanie: NISSILA J
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000103416
Tytuł oryginału: Comparison of two buffers for impendance metrology
Autorzy: Marian Kampik, Janusz Tokarski, Krzysztof Musioł, Wojciech Barwinek, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, J. Nissila.
¬ródło: -Meas. Autom. Monit. 2015 vol. 61 nr 5, s. 127-131, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 11.000
p-ISSN: 2450-2855
Słowa kluczowe polskie: układ mostkowy ; impedancja ; wzorzec miary ; metrologia ; pomiar precyzyjny
Słowa kluczowe angielskie: bridge circuit ; impedance ; measurement standard ; metrology ; precision measurement
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000097836
Tytuł oryginału: A precise two-channel digitally synthesized AC voltage source for impedance metrology.
Autorzy: J. Nissila, K. Ojasalo, Marian Kampik, J. Kaasalainen, V. Maisi, M. Casserly, F. Overney, A. Christensen, L. Callegaro, V. D'Elia, N. T. M. Tran, F. Pourdanesh, M. Ortolano, D. B. Kim, J. Penttila, L. Roschier.
¬ródło: W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 768-769, bibliogr. 2 poz.
ISBN: 978-1-4799-2480-6
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus; INSPEC; IEEE Xplore
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mostek impedancyjny ; przetwornik cyfrowo-analogowy ; Ľródło sygnału cyfrowego
Słowa kluczowe angielskie: impedance bridge ; digital-to-analog converter ; digital signal source
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000097851
Tytuł oryginału: AIM QuTE: automated impedance metrology extending the quantum toolbox for electricity.
Autorzy: L. Palafox, F. Raso, J. Kucera, F. Overney, L. Callegaro, P. Gournay, A. Ziołek, J. Nissila, G. Eklund, T. Lippert, Y. Gulmez, P. Fleischmann, Marian Kampik, R. Rybski.
¬ródło: W: 16th International Congress of Metrology, Paris, France, October 7-10, 2013 [online]. Eds. J.-R. Filtz, B. Larquier, P. Claudel et J.-O. Favreau. Paris : EDP Sciences - Web of Conferences, 2013, (plik pdf) art. 11001 s. 1-3
Uwagi: Dostępny w Internecie: http://dx.doi.org/10.1051/metrology/201311001 [dostęp 1 kwietnia 2015]
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,25
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie