Wynik wyszukiwania
Zapytanie: KRAIŃSKI Ł
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000040874
Tytuł oryginału: Analiza bezprzewodowa sieci komputerowych z wykorzystaniem analizatora czasu rzeczywistego z technologią DPX
Autorzy: Ł. Kraiński, Tadeusz* Topór-Kamiński.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2008 vol. 54 nr 9, s. 638-641, bibliogr. 3 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: pomiar widma ; technologia DPX ; analizator widma czasu rzeczywistego ; analiza sygnału ; standard WLAN ; maska częstotliwościowa
Słowa kluczowe angielskie: spectrum measurement ; Digital Phosphor Technology ; real-time spectrum analyzer ; signal analysis ; WLAN standard ; frequency mask
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000041826
Tytuł oryginału: Zastosowanie analizatora czasu rzeczywistego z technologią DPX do pomiarów bezprzewodowych interfejsów wi-fi.
Autorzy: Ł. Kraiński, Tadeusz* Topór-Kamiński.
Źródło: W: Podstawowe problemy metrologii. PPM'08. [Materiały VI konferencji naukowo-technicznej], Sucha Beskidzka, 11-14 maja 2008. Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. [Gliwice] : Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, 2008, s. 253-258, bibliogr. 2 poz.
Organizator: Instytut Metrologii, Elektroniki i Automatyki Politechniki Śląskiej, Wydawnictwo Pomiary Automatyka Kontrola (Agenda SIMP)
Seria: (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach ; Seria: Konferencje ; nr 12)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie