Wynik wyszukiwania
Zapytanie: KOPEĆ M
Liczba odnalezionych rekordów: 24



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/24
Nr opisu: 0000115286
Tytuł oryginału: Porównanie wybranych własno¶ci mechanicznych PMMA sieciuj±cego na gor±co z PMMA sieciuj±cym na zimno.
Autorzy: M. Kopeć, Katarzyna* Paluch, Katarzyna* Sobolewska, Tomasz Tański, Grzegorz Chladek.
¬ródło: W: Zeszyty studenckich kół naukowych. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika ¦l±ska, 2017, s. 67-84, bibliogr. 14 poz.
ISBN: 978-83-65138-17-0
Seria: (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika ¦l±ska z. 2)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,8
Słowa kluczowe polskie: PMMA ; sieciowanie polimeru ; proteza ; wytrzymało¶ć ; mikrotwardo¶ć
Słowa kluczowe angielskie: PMMA ; polymer cross-linking ; prosthesis ; strength ; microhardness
Typ publikacji: U
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OTHER
Dostęp on-line:


2/24
Nr opisu: 0000097319
Tytuł oryginału: Wpływ nakładania kolejnych warstw porcelany stomatologicznej na zmianę barwy metalowo-ceramicznej protezy.
Autorzy: K. Birowski, A. Buczek, A. Budziszewska, J. Karkoszka, M. Kopeć, S. Lasok, Łukasz Reimann.
¬ródło: W: Sesja Okoliczno¶ciowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej, 2015, s. 1-8, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 978-83-65138-01-9
Seria: (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika ¦l±ska nr 35)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,4
Słowa kluczowe polskie: ceramika stomatologiczna ; napalanie ; barwa ; pomiar barwy ; korona protetyczna
Słowa kluczowe angielskie: dental ceramics ; firing ; colour ; colour measurement ; prosthetic crown
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/24
Nr opisu: 0000061262
Tytuł oryginału: Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2010 R. 86 nr 11a, s. 133-137, bibliogr. 22 poz.
Impact Factor: 0.242
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: liniowy rejestr pier¶cieniowy ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; sieć poł±czeń
Słowa kluczowe angielskie: linear ring register ; test pattern generator ; System on Chip ; crosstalks ; interconnection network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


4/24
Nr opisu: 0000059176
Tytuł oryginału: An Interconnect BIST for crosstalk faults based on a Ring LFSR.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: W: Proceedings of IEEE East-West Design and Test Symposium. EWDTS'09, Moscow, Russia, September 18-21, 2009. Moscow : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 381-384
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/24
Nr opisu: 0000056505
Tytuł oryginału: Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, ŁódĽ, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 530-535
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


6/24
Nr opisu: 0000051249
Tytuł oryginału: Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 83-922632-7-8
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test poł±czeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; poł±czenie BIST ; IBIST
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/24
Nr opisu: 0000048018
Tytuł oryginału: Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.
Słowa kluczowe polskie: LFSR ; diagnostyka błędów ; przesłuch ; wykrywanie błędów
Słowa kluczowe angielskie: LFSR ; fault diagnosis ; crosstalk ; fault detection
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


8/24
Nr opisu: 0000039319
Tytuł oryginału: On application of polynomial algebra for identification of dynamic faults in interconnects
Autorzy: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Kwart. Elektron. Telekom. 2008 t. 54 z. 1, s. 29-41, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 0867-6747
Słowa kluczowe polskie: tester wbudowany ; IBIST ; uszkodzenie ; chińskie twierdzenie o resztach ; częstotliwo¶ć operacyjna
Słowa kluczowe angielskie: Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; fault ; Chinese Remainder Theorem ; operating frequency
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.168


9/24
Nr opisu: 0000031627
Tytuł oryginału: Avoiding crosstalk influence on interconnect delay fault testing.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 149-152, bibliogr. 10 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 118456
Dostęp on-line:


10/24
Nr opisu: 0000031907
Tytuł oryginału: Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test poł±czeń ; uszkodzenie opóĽnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


11/24
Nr opisu: 0000040204
Tytuł oryginału: Reliable measurement of interconnect delays in presence of crosstalk-induced noise.
Autorzy: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: 12th IEEE European Test Symposium. ETS '07, Freiburg, Germany, May 20-24, 2007. Informal digest of papers. [B.m.] : [b.w.], 2007, s. 167-172
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


12/24
Nr opisu: 0000029027
Tytuł oryginału: Multi-signature analysis for interconnect test.
Autorzy: Tomasz Garbolino, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2006. Proceedings of the international conference, Gdynia, Poland, 22-24 June 2006. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2006, s. 577-582, bibliogr. 15 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland, Department of Marine Electronics. Gdynia Maritime University. Poland, Institute of Microelectronics and Optoelectronics. Warsaw University of Technology. Poland
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


13/24
Nr opisu: 0000021755
Tytuł oryginału: On the use of multi-signature analysis for interconnect test
Tytuł w wersji polskiej: Wykorzystanie analizy wielosygnaturowej w testowaniu poł±czeń
Autorzy: Tomasz Garbolino, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Elektronika 2006 R. 47 nr 10, s. 16-18
p-ISSN: 0033-2089
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


14/24
Nr opisu: 0000020264
Tytuł oryginału: Can a D flip-flop based MISR compactor reliability detect interconnect faults?.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: Proceedings of 8th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS 2005, Sopron, Hungary, April 13-16, 2005. Eds: G. Takach [et al.]. Sopron : University of West Hungary, 2005, s. 2-10
Organizator: Institute of Informatics. University of West Hungary
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


15/24
Nr opisu: 0000014398
Tytuł oryginału: On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions
Tytuł w wersji polskiej: Wykrywanie uszkodzeń w poł±czeniach przez rejestr MISR - nieznane problemy i nowe rozwi±zania
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: -Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN: 0867-2121
Słowa kluczowe polskie: BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; test pattern generator ; MISR
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405


16/24
Nr opisu: 0000016479
Tytuł oryginału: A new efficiently tested MISR-NOT compactor for soft-repairable digital circuits.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'2003. Sixth International IEEE Workshop, Poznań, Poland, April 14-16, 2003. Proceedings. Poznań University of Technology [et al.]. Poznań : Wydaw. Politechniki Poznańskiej, 2003, s. 219-226
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


17/24
Nr opisu: 0000003151
Tytuł oryginału: Functional and dependable testing of identical digital structures on wafer
Tytuł w wersji angielskiej: Funkcjonalne i niezawodne testowanie identycznych struktur cyfrowych na płytce
Autorzy: W. Gamża, Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: -Arch. Informat. Teor. Stosow. 2002 t. 14 z. 3, s. 203-217, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0867-2121
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405


18/24
Nr opisu: 0000002507
Tytuł oryginału: Metoda wiarygodnego funkcjonalnego testowania identycznych struktur cyfrowych na płytce krzemowej.
Autorzy: W. Gamża, Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - DĽwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 421-426, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, Polskie Towarzystwo Elektroniki Teoretycznej i Stosowanej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


19/24
Nr opisu: 0000000238
Tytuł oryginału: Projektowanie, ustawianie i testowanie szybkich generatorów testów typu CA złożonych z komórek o prawidłach 150/90
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: -Arch. Informat. Teor. Stosow. 2000 t. 12 z. 4, s. 265-287, bibliogr. 12 poz.
p-ISSN: 0867-2121
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405


20/24
Nr opisu: 0000044839
Tytuł oryginału: Testowanie i projektowanie łatwo testowalnych układów i pakietów cyfrowych. Praca zbiorowa. Cz. 2. Pod red. A. Hławiczki.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Adam Kristof, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Janusz* Muszyński, D. Badura.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 1994
Opis fizyczny: , 78 s., bibliogr.
Seria: (Skrypty Uczelniane ; Politechnika ¦l±ska nr 1788 0434-0825)
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


21/24
Nr opisu: 0000044900
Tytuł oryginału: Nowe układy scalone do realizacji sprzęgu P1149.3
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć, M. Chachulski, A. Boszko.
¬ródło: -Elektronika 1993 R. 34 nr 5, s. 10-15, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


22/24
Nr opisu: 0000045274
Tytuł oryginału: Properties of the rule 150/90 cellular automata-based MISRs and LFSRs used in Built-In Self-Test
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: -Arch. Informat. Teor. Stosow. 1993 t. 5 z. 1, s. 181-203, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0867-2121
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405


23/24
Nr opisu: 0000045559
Tytuł oryginału: Sposób i układ elektryczny do wykrywania nieszczelno¶ci rur powierzchni grzewczych kotłów parowych, zwłaszcza maj±cych tendencje do okresowego występowania dominuj±cych składowych widma tła akustycznego w zakresie częstotliwo¶ci poniżej 300 Hz.
Twórcy: Marek** Kurowicz, Henryk** Szepe, T. Sopicki, Jerzy** Antoniak, Tadeusz** Chmielniak, M. Kopeć.
¬ródło: Patent. Polska, nr 161 799. Int. Cl. G01M 3/24, G01R 23/165. Politechnika ¦l±ska, Elektrownia "RYBNIK", Polska
Zgłosz. nr 283 133 z 29.12.1989. Opubl. 30.07.1993, 4 s., 1 tabl.
Typ publikacji: OP
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. N/Pt
Dostęp on-line:


24/24
Nr opisu: 0000052506
Tytuł oryginału: Ułatwienie testowania systemów cyfrowych przy użyciu standardu P1149
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: -Elektronika 1992 R. 33 nr 7, s. 8-14, bibliogr. 20 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie