Wynik wyszukiwania
Zapytanie: KASZCZYSZYN S
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000063330
Tytuł oryginału: Theoretical analysis of electro-optical characteristics of the modified three cylindrical mirror analyzer
Autorzy: Sz. Klein, S. Kaszczyszyn, A. Grzeszczak, Piotr* Ko¶cielniak.
¬ródło: -Opt. Appl. 2010 vol. 40 no. 2, s. 521-526, bibliogr. 7 poz.
Impact Factor: 0.347
p-ISSN: 0078-5466
e-ISSN: 1899-7015
Słowa kluczowe polskie: analizator zwierciadlany cylindryczny ; analizator TCMA ; metoda Bashfortha-Adamsa-Moultona
Słowa kluczowe angielskie: cylindrical mirror analyzer ; TCMA analyzer ; Bashforth-Adams-Moulton method
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.3422
Dostęp on-line:


2/7
Nr opisu: 0000001896
Tytuł oryginału: Multiple-technique electron spectrometer for investigation of semiconductor surfaces and interfaces
Autorzy: Jacek Szuber, Piotr* Ko¶cielniak, S. Kaszczyszyn.
¬ródło: -Elektronika 2001 R. 42 nr 8/9, s. 74-75, bibliogr. 17 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


3/7
Nr opisu: 0000019561
Tytuł oryginału: Cylindryczny analizator zwierciadlany energii cz±stek naładowanych.
Twórcy: Piotr* Ko¶cielniak, S. Kaszczyszyn, Jacek Szuber.
¬ródło: Patent. Polska, nr 191 978. Int. Cl. H01J 49/08, G01N 23/227. Politechnika ¦l±ska, Polska
Zgłosz. nr 340 741 z 12.06.2000. Opubl. 31.07.2006, 4 s.
Typ publikacji: OP
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/7
Nr opisu: 0000004368
Tytuł oryginału: Surface photovoltage spectroscopy system for in situ studies of metal phthalocyanine thin films.
Autorzy: Marek* Bilski, S. Kaszczyszyn, Lucyna Grz±dziel, Bogusława Adamowicz, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 289-291, bibliogr. 19 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


5/7
Nr opisu: 0000008080
Tytuł oryginału: Application of the unipole mass filter for determination of the partial pressure of gases with near atomic mass number.
Autorzy: Aleksander Król, Jacek Szuber, S. Kaszczyszyn.
¬ródło: W: Proceedings of the 19th International Seminar on Surface Physics, Polanica-Zdrój, Poland, 15-19 June 1998. Eds: T. L. Barr [i in.]. [B.m.] : Pergamon Press, 1999, s. 205-209, bibliogr. 10 poz.
Seria: (Vacuum ; vol. 54, nr 1-4 0042-207X)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


6/7
Nr opisu: 0000025761
Tytuł oryginału: Application of the unipole mass filter (UMF) for determination of partial pressuress of gases with near atomic masses.
Autorzy: Aleksander Król, Jacek Szuber, S. Kaszczyszyn.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 505-507, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


7/7
Nr opisu: 0000003045
Tytuł oryginału: Mikrokomputerowy układ sterowania i rejestracji widm spektrometru masowego typu unipolarnego filtru mas.
Autorzy: Michał* Piwowarczyk, S. Kaszczyszyn, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Technologia elektronowa. V Konferencja naukowa. ELTE '94, Szczyrk, 20.04-23.04.1994. T. 1. Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 1994, s. 285-287, bibliogr. 5 poz.
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie