Wynik wyszukiwania
Zapytanie: HUK M
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000129596
Tytuł oryginału: Machine learning paradigms: theory and application. Eds. Maciej Huk, Marcin Maleszka, Edward Szczerbicki.
Adres wydawniczy: Cham : Springer, 2020
Opis fizyczny: , 438 s.
ISBN: 978-3-030-14131-8978-3-030-14132-5
Seria: (Studies in Computational Intelligence ; vol. 830 1860-949X)
Uwagi: Publikacja nie należy do bibliografii Uczelni
Liczba arkuszy wydawniczych: 27
DOI:
Typ publikacji: 000
Język publikacji: ENG
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000010207
Tytuł oryginału: Zastosowanie modelu Spieglera-Kedem-Katchalsky'ego w celu określenia grubości warstwy polaryzacyjnej membran nanofiltracyjnych.
Tytuł w wersji angielskiej: Application of Spiegler-Kedem-Tatchalsky model to the determination of concentration polarizationin the NF membrane
Autorzy: S. Koter, K. Wesołowska, Michał** Bodzek, M. Huk.
Źródło: W: Membrany i procesy membranowe w ochronie środowiska. V Konferencja naukowa, Gliwice 2004. Pod red. Michała Bodzka, Jolanty Bohdziewicz. [Lublin] : [Polska Akademia Nauk. Komitet Inżynierii Środowiska], 2004, s. 549-557, bibliogr. 15 poz.
Seria: (Monografie ; Polska Akademia Nauk. Komitet Inżynierii Środowiska nr 22)
Słowa kluczowe polskie: model Spieglera-Kedem-Katchalsky'ego ; membrana nanofiltracyjna ; warstwa polaryzacyjna
Słowa kluczowe angielskie: Spiegler-Kedem-Tatchalsky model ; nanofiltration membrane ; polarization layer
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. Cz.01 111342


stosując format:
Nowe wyszukiwanie