Wynik wyszukiwania
Zapytanie: GENCHEV G
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000124870
Tytuł oryginału: Detection of intra-band gap defects states in spin-coated sol-gel SnOx nanolayers by photoelectron spectroscopies
Autorzy: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, A. Szwajca, A. Sarfraz, G. Genchev, A. Erbe.
Źródło: -J. Phys., D Appl. Phys. 2018 vol. 51 iss. 31, art. no. 315301 s. 1-9, bibliogr. 46 poz.
Impact Factor: 2.829
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 0022-3727
e-ISSN: 1361-6463
DOI:
Słowa kluczowe polskie: tlenek cyny ; stan wady ; spektroskopia fotoemisyjna
Słowa kluczowe angielskie: tin oxide ; defect states ; photoemission spectroscopy ; band gap states ; oxygen vacancies
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000114419
Tytuł oryginału: Effect of order and disorder on degradation processes of copper phthalocyanine nanolayers
Autorzy: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, G. Genchev, A. Erbe.
Źródło: -Synth. Met. 2017 vol. 223, s. 199-204, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor: 2.526
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0379-6779
e-ISSN: 1879-3290
DOI:
Słowa kluczowe polskie: nanoelektronika ; organiczna warstwa cienka ; ftalocyjanina ; proces degradacji ; morfologia ; spektroskopia Ramana
Słowa kluczowe angielskie: nanoelectronics ; organic thin film ; phthalocyanine ; degradation process ; morphology ; Raman spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000104603
Tytuł oryginału: Defect states in tin oxide - a subtle way for tuning the oxide's sensing properties.
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Monika Kwoka, A. Sarfraz, G. Genchev, A. Erbe.
Źródło: W: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015, s. 41
Organizator: Silesian University of Technology. Institute of Electronics, European Center of Excellence CESIS. Gliwice. Poland
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie