Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FIREK P
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000114170
Tytuł oryginału: Measuring thermal conductivity of thin films by Scanning Thermal Microscopy combined with thermal spreading resistance analysis
Autorzy: Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, Jerzy Bodzenta.
Źródło: -Ultramicroscopy 2017 vol. 175, s. 81-86, bibliogr. 28 poz.
Impact Factor: 2.929
Punktacja MNiSW: 50.000
p-ISSN: 0304-3991
DOI:
Słowa kluczowe polskie: skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodność cieplna ; pomiar cieplny ; próbnik termiczny ; powłoka cienka
Słowa kluczowe angielskie: scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thermal measurement ; thermal probe ; thin film ; thermal spreading resistance
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000106991
Tytuł oryginału: Quantitative thermal microscopy measurement with thermal probe driven by dc+ac current
Autorzy: Jerzy Bodzenta, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, A. Fleming, M. Chirtoc.
Źródło: -Int. J. Thermophys. 2016 vol. 37 iss. 7, s. 1-17, bibliogr. 60 poz.
Impact Factor: 0.745
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0195-928X
e-ISSN: 1572-9567
DOI:
Słowa kluczowe polskie: metoda elementów skończonych ; analiza numeryczna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; pomiar przewodności cieplnej ; warstwa cienka
Słowa kluczowe angielskie: finite element method ; numerical analysis ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity measurement ; thin layer
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie