Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CISOWSKI J
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000073913
Tytuł oryginału: Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych
Autorzy: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarz±bek.
¬ródło: -Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 1644-3470
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1906
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000068418
Tytuł oryginału: New organic materials for photovoltaics
Autorzy: Jan** Weszka, J. Cisowski, M. Domański, H. Bednarski, B. Jarz±bek, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, Małgorzata* Chwastek.
¬ródło: -Moldavian J. Phys. Sci. 2011 vol. 10, s. 33-43, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN: 1810-648X
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000058268
Tytuł oryginału: Electronic processes in polyazomethine thin films
Autorzy: Jan** Weszka, J. Cisowski.
¬ródło: -Moldavian J. Phys. Sci. 2009 vol. 8 nr 2, s. 221-230, bibliogr. 27 poz.
p-ISSN: 1810-648X
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie