Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CHASSE T
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000077211
Tytuł oryginału: Photoemission study of the Si(1 1 1)-native SiO2/copper phthalocyanine (CuPc) ultra-thin film interface
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: -Org. Electron. 2012 vol. 13 iss. 10, s. 1873-1880, bibliogr. 44 poz.
Impact Factor: 3.836
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 1566-1199
e-ISSN: 1878-5530
DOI:
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjaniny ; powierzchnia organiczna ; powierzchnia nieorganiczna
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; phthalocyanines ; organic interface ; inorganic interface ; silicon native substrate
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


2/9
Nr opisu: 0000063754
Tytuł oryginału: Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 7, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci elektroniczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; electronic properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; ultraviolet photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/9
Nr opisu: 0000069288
Tytuł oryginału: Effect of long term air exposure on surface chemistry and electronic properties of CuPc ultra thin sensing layer.
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Maciej Krzywiecki, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 50
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


4/9
Nr opisu: 0000069311
Tytuł oryginału: Influence of substrate doping on surface morphology of CuPc ultra thin films deposition on Si (111) RCA-treated substrates.
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grz±dziel, Jerzy Bodzenta, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 56
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/9
Nr opisu: 0000058364
Tytuł oryginału: X-ray Photoelectron Spectroscopy characterization of native and RCA-treated Si (111) substrates and their influence on surface chemistry of copper phthalocyanine thin films
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grz±dziel, H. Peisert, I. Biswas, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2010 vol. 518 iss. 10, s. 2688-2694, bibliogr. 37 poz.
Impact Factor: 1.935
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: warstwa cienka ; półprzewodnik organiczny ; spektroskopia fotoemisyjna ; promieniowanie rentgenowskie
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; organic semiconductor ; photoemission spectroscopy ; X-ray
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/9
Nr opisu: 0000059232
Tytuł oryginału: Photoemission study of Si(111)-native SiO2/CuPc ultra thin film interface.
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 50
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


7/9
Nr opisu: 0000047690
Tytuł oryginału: Analysis of mechanism of carbon removal from GaAs(1 0 0) surface by atomic hydrogen
Autorzy: Paweł* Tomkiewicz, A. Winkler, Maciej Krzywiecki, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8035-8040, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor: 1.576
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: GaAs ; oczyszczanie ; wytrawianie ; wodór atomowy ; spektroskopia elektronów Augera ; spektrometria mas ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: GaAs ; cleaning ; etching ; atomic hydrogen ; Auger electron spectroscopy ; mass spectrometry ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


8/9
Nr opisu: 0000047757
Tytuł oryginału: Analysis of the mechanism of cleaning process of GaAs(100) surface by atomic hydrogen.
Autorzy: Paweł* Tomkiewicz, Maciej Krzywiecki, A. Winkler, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: W: V International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP' 2007, Zakopane, Poland, September 16-19, 2007. Programme, abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2007, s. 63, bibliogr. 7 poz.
Organizator: ECoE CESIS. NANOMET. Department of Electron Technology. Silesian University of Technology. Gliwice
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 122839


9/9
Nr opisu: 0000023050
Tytuł oryginału: Influence of ambient air exposure on the surface chemistry and electronic properties of CuPc thin films.
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, M. Krzywicki, L. Zhang, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
¬ródło: W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 43, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Centre of Excellence in Physics and Technology of Semiconductor Interfaces and Sensors (CESIS). Department of Electron Technology. Silesian University of Technology, Gliwice, Poland
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 116437


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie