Wynik wyszukiwania
Zapytanie: BISWAS I
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000058364
Tytuł oryginału: X-ray Photoelectron Spectroscopy characterization of native and RCA-treated Si (111) substrates and their influence on surface chemistry of copper phthalocyanine thin films
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, H. Peisert, I. Biswas, T. Chasse, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2010 vol. 518 iss. 10, s. 2688-2694, bibliogr. 37 poz.
Impact Factor: 1.935
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: warstwa cienka ; półprzewodnik organiczny ; spektroskopia fotoemisyjna ; promieniowanie rentgenowskie
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; organic semiconductor ; photoemission spectroscopy ; X-ray
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie